> 高性能 XRF 合金分析仪--
无需氩气和氦气消耗，大大降低运行成本
>完全无损分析，需要*少的样品制备
>提高轻元素检测性能，包括 Na、Mg、Al、Si、P 和 Cl
>高性能 SDD 检测器可同时覆盖多达 40 个元素
>无需每天校准，减少测试时间
>坚固耐用，非常人性化
特征
EDX-9000A作为一款专为合金元素分析而设计生产的光谱仪，兼顾耐用性、操作简便和高。其显着优势主要包括
• 更快---全无损分析，一到三分钟即可出结果（检测结果可实时刷新）
• 更准确---强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体元素之间的吸收增强效应，同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰，测试精度为提高到一个新的水平
• 更稳定---使用*的硅漂移检测器SDD可以获得更好的测试稳定性和长期重复性。该检测器在相同的样品激发条件下可以获得更高的光谱强度（计数率CPS）。的多通道分析仪DPP可实现过100,000 cps的线性计数率，同时确保*光谱分辨率，通常优于130 eV，以更好地分离不同元素的光谱。与传统的EDXRF台式仪器相比，EDX9000A光谱仪可以全功率运行，从而实现更准确的测试性能
• 无需消耗昂贵的氩气或氦气，大大降低了仪器的使用和维护成本
• 无需或只需很少的样品制备，通常只需对样品表面进行抛光即可在机器上进行测试
•无需每天校准仪器，开机即可测试，大大提高生产效率，减少对标准样品的依赖
•多重仪器硬件保护系统，软件全程实时监控，使仪器工作更稳定、更安全
•特殊设计的光路和真空系统，使轻元素（Na、Mg、Al、Si、P）的测试灵敏度提高3-5倍
• 友好的用户界面，可定制的分析报告，一键打印测试报告，包括分析结果、样品信息、光谱信息和样品图像
• 八种光路准直系统，根据不同的样品大小自动切换，也可以测试样品的不同位置然后计算平均值，减少样品不均匀带来的误差
• 高清内置摄像头，清晰显示仪器检测到的样品位置
>仪器规格
光谱仪尺寸：560mm*380mm*410mm
样品室尺寸：460mm*310mm*95mm
真空样品室尺寸：Φ150mm×75mm
重量：45Kg
元素范围：Na11-U92
分析含量范围：1ppm- 99.99%
检测器：AmpTek高分辨率SDD
DPP分析仪：4096通道DPP分析仪
激发源：50W X射线管
高压机组：0-50kV
电源：220ACV 50/60HZ
环境：-10 °C 到35 °C
配饰
>标准 >可选
Ag-校准标准功率稳定器
真空泵合金标准样品
样品杯
USB电缆
电源线
测试麦拉
校准报告
保修卡
从样品生成 XRF 数据后，软件会将 X 射线强度转换为厚度或成分。该软件有两个组成部分：频谱处理和定量分析。
光谱处理软件的功能是从光谱中可靠地提取 X 射线强度。这涉及诸如能量校准、光谱稳定、峰值识别、无效时间校正、峰值校正、逃逸峰值校正、重叠校正和背景去除等任务。
定量分析软件计算 XRF 强度的厚度和成分。由于基质效应，强度和厚度/成分之间没有简单的关系。矩阵效应是元素间或层间效应。来自一种元素的荧光 X 射线可以被样品中的其他元素吸收或增强。因此，元素的组成/厚度与荧光 X 射线强度之间的关系取决于材料中存在的其他元素。这取决于这些元素是什么以及这些元素中有存在。
进行定量分析
有两种方法可以进行定量分析。经验方法（如干涉系数、阿尔法系数等）使用多项式函数来逼近矩阵效应。这些方法需要在校准中使用窄范围内的多个标准。优点是这些方法不需要复杂的计算，易于理解和实现。
FP法通过理论计算来修正基体效应。计算基于物理定律和基本物理参数。理论上，FP 在扩展范围内不需要校准和功能。仍然需要校准以*限度地减少物理参数和系统不确定性的错误。 FP 算法发布于 1970 年代，各种 FP 软件系统之间的差异并不明显。 FP 校准比经验校准更复杂，需要更大的计算能力。
Brass sample repeatibility test report
资质已审查